2019年第67屆美國質譜年會（ASMS）將于6月2-6日在美國佐治亞州首府亞特蘭大市喬治亞世界會議中心舉行。近日，組委會陸續公布了ASMS各大獎項的獲獎名單，John R. Yates III博士獲得質譜杰出貢獻獎，同時Jeff Shabanowitz博士成為Al Yergey質譜科學家獎的首位獲得者。Scripps研究所分子醫學教授John R. Yates III博士榮獲2019年ASMS John B. Fenn質譜杰出貢獻獎，該獎項的設立旨在紀念獲得2002年諾貝爾電噴霧電離發展獎的John B.Fenn博士。
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